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蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力。
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力。
德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡
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