HAST高加速老化試驗(yàn)箱Burn-in system 返回列表頁

HAST高加速老化試驗(yàn)箱Burn-in system

HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

HAST高加速老化試驗(yàn)箱Burn-in system

HAST設(shè)備特點(diǎn)

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；

多重保護(hù)功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；

穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。

HAST高加速老化試驗(yàn)箱Burn-in system

用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片。